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隱裂、熱斑、PID效應，是影響光伏組件性能的三個重要原因，近期為大家所關注。之前的文章中，對熱斑、PID效應效應進行了介紹，今天來說一下隱裂。
　　
1、什么是“隱裂”？

隱裂是電池片的缺陷。

由于晶體結構的自身特性，晶硅電池片十分容易發(fā)生破裂。晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程長，許多環(huán)節(jié)都可能造成電池片隱裂（據(jù)西安交大楊宏老師的資料，僅電池生產(chǎn)階段就有約200種原因）。隱裂產(chǎn)生的本質(zhì)原因，可歸納為在硅片上產(chǎn)生了機械應力或熱應力。

近幾年，晶硅組件廠家為了降低成本，晶硅電池片一直向越來越薄的方向發(fā)展，從而降低了電池片防止機械破壞的能力。

2011年，德國ISFH公布了他們的研究結果：根據(jù)電池片隱裂的形狀，可分為5類：樹狀裂紋、綜合型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個電池片的裂紋。

2、“隱裂”對組件性能的影響

不同的隱裂，對電池片功能造成的影響是不一樣的。先來看一張電池片的放大圖。