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表面漏漿是指電池片在印刷前有隱裂，印刷時隱裂處沾染上鋁漿，燒結(jié)時鋁漿隨銀漿一起被燒進PN結(jié)，而導致PN結(jié)被燒穿，引起的漏電如圖8所示。平面圖上明顯看到漿料（紅色線條包圍的區(qū)域），這些漿料以鋁漿為主。
4、其他原因造成的漏電 Si3N4顆粒有可能造成漏電如圖9所示，Si3N4顆粒主要來源：1）鑄造多晶硅時在坩堝表面噴涂的Si3N4脫落融入硅錠所致；2）鍍膜時SiH4的含量偏高，形成Si3N4顆粒。Si3N4顆粒的晶粒貫穿電池片的層錯，使PN結(jié)導通而導致漏電。

晶界缺陷有可能造成漏電如圖10所示，其原因主要為1）雜質(zhì)原子容易在晶界位置集中，形成各類缺陷和復合中心；2）高溫擴散的原子也容易沿著位錯和晶界形成微小的橋路漏電。

三、結(jié)論

分析了晶體硅硅片及電池生產(chǎn)階段可能產(chǎn)生的漏電原因及預防措施。在電池生產(chǎn)過程中產(chǎn)生漏電的主要原因為：1）刻蝕不完全或未刻蝕2）點狀燒穿3）印刷擦片或漏漿等，嚴重影響電池片的品質(zhì)。在分析過程中還發(fā)現(xiàn)Si3N4顆粒、多晶晶界等也有可能造成電池片漏電，在以后的研究中也需要重點關(guān)注。