研究機(jī)構(gòu)GTM Research與光伏組件實(shí)驗(yàn)室PV Evolution Labs(PVEL)聯(lián)合公布光伏組件可靠性最新測(cè)試報(bào)告,展現(xiàn)出一幅錯(cuò)綜復(fù)雜的畫面。
7月17日,GTM Research與PVEL聯(lián)合公布《2014年P(guān)VEL組件可靠性測(cè)試結(jié)果》報(bào)告。從結(jié)果顯示來看,影響光伏組件可靠性的因素絕非想象中的那么簡(jiǎn)單容易。
本次報(bào)告組件性能測(cè)試結(jié)果主要基于六種類型各異的測(cè)驗(yàn),包含濕熱、熱循環(huán)及潛在電勢(shì)誘導(dǎo)衰減(PID)。報(bào)告發(fā)現(xiàn),某個(gè)測(cè)試得分高的組件未必能在另一個(gè)測(cè)試中獲得高分。
據(jù)悉,所有測(cè)試均基于PVEL高加速壽命測(cè)試(HALT)項(xiàng)目——旨在模仿實(shí)際條件與明確長(zhǎng)期潛在性質(zhì)量問題及故障模式。因此,測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)已超出IEC 61215與UL 1703標(biāo)準(zhǔn)——只能識(shí)別早期故障,卻無法明確壽命減退征兆。
GTM Research指出,測(cè)試結(jié)果顯示各個(gè)廠商組件各類測(cè)試得分并不相同,無法顯示不同生產(chǎn)地與不同規(guī)模制造商對(duì)組件性能的具體影響。“就測(cè)試結(jié)果而言,沒有看到任何顯而易見的趨勢(shì)。” GTM Research太陽能研究部總監(jiān)MJ Shaio指出,“每一個(gè)測(cè)試結(jié)果均不相同。”
GTM Research指出,某家制造商的組件在所有測(cè)試中均取得相對(duì)不錯(cuò)的成績(jī)。然而,該企業(yè)并未透露具體企業(yè)名。據(jù)GTM Research透露,每項(xiàng)測(cè)試的組件至少來自10家制造商(隨機(jī)選擇)。中國(guó)英利綠色能源、天合光能及日本京瓷均為參與企業(yè)。
報(bào)告展示出某些特定故障模式的潛在性問題,其中被記錄頻率最高的是PID測(cè)試——一部分組件表現(xiàn)實(shí)在欠佳。
“盡管廠家紛紛聲稱自己的組件具有抗PID性能,但測(cè)試結(jié)果并未明確展示出這一點(diǎn)。”MJ Shaio指出,“我們看到一部分組件并未出現(xiàn)衰退跡象,但另一部分組件性能在測(cè)試之后完全衰退。”
報(bào)告指出,另一個(gè)值得關(guān)注的領(lǐng)域即熱循環(huán)。“沒有組件制造商能夠避免熱循環(huán)的影響。” GTM Research太陽能分析師Jade Jones指出。她表示,未來數(shù)年里,很多光伏組件將被安裝在熱循環(huán)占據(jù)重要地位的地區(qū)。
GTM認(rèn)為,總體而言,組件的表現(xiàn)相對(duì)較好。Shiao表示該報(bào)告有助于安裝商及買家了解組件的各種屬性,以便更好的做出選擇。“組件質(zhì)量絕非局限于單一的特征。我們必須觀察系統(tǒng)的安裝地點(diǎn)以及系統(tǒng)所運(yùn)用的技術(shù)類型。”